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講座詳細情報

申し込み締切日:2013-09-06 / その他教養

【講座13】実務技術者のための機器分析入門―走査型顕微鏡・X線マイクロアナライザー・X線回折―

主催:横浜国立大学横浜国立大学(神奈川県)]
問合せ先:横浜国立大学 各問い合わせ先へ
開催日
2013年9月26日(木)~2013年9月27日(金)
講座回数
2回
時間
10時~17時
講座区分
数回もの 
入学金
 - 
受講料
7,200円
定員
20
補足
※この講座の申し込みは既に締め切りました。

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講座詳細

初めて走査型顕微鏡、X線マイクロアナライザー、X線回折の各装置をあつかう者の立場にたって、各装置の原理、得られる情報、その評価方法と応用などについて説明致します。さらに使用上の注意を述べるとともに、X線による物質の同定方法についての演習を行うと同時に、走査型電子顕微鏡の実習も行います。

講師陣

名前 横山 隆
肩書き 横浜国立大学 大学院工学研究院 講師
プロフィール
名前 岡崎 慎司
肩書き 横浜国立大学 大学院工学研究院 准教授
プロフィール
名前 伊藤 大輔
肩書き 横浜国立大学 大学院工学研究院 特別研究教員
プロフィール

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