講座詳細情報
申し込み締切日：2015-08-31 / 自然科学・環境
実践機器分析基礎講座 (2) 初心者のための機器分析 - X線，電子線を用いる固体試料の観察及び分析 -
- 開催日
- 2015年9月14日（月）、9月15日（火）
- 講座回数
- 2回
- 時間
- 10:00～17:00
- 講座区分
- 数回もの
- 入学金
- －
- 受講料
- 3,000円
- 定員
- 16
- 補足
※この講座の申し込みは既に締め切りました。
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講座詳細
本講座は固体試料の観察及び分析の初心者や実務者を対象とするものです。
固体試料の観察でよく用いられる、X線回折（XRD）、走査電子顕微鏡（SEM）、透過電子顕微鏡（TEM）および電子線マイクロアナライザー（EPMA）について，原理や得られる結果、試料調整方法等を紹介するとともに，これらの装置を用いて実習を行います。
固体試料の観察でよく用いられる、X線回折（XRD）、走査電子顕微鏡（SEM）、透過電子顕微鏡（TEM）および電子線マイクロアナライザー（EPMA）について，原理や得られる結果、試料調整方法等を紹介するとともに，これらの装置を用いて実習を行います。
備考
【受講対象者】一般（大学生以上）、技術者の方
【会場】横浜国立大学 機器分析評価センター、先端科学高等研究院棟
【問い合わせ先】横浜国立大学総務部広報・渉外課（TEL:045-339-3027）
【申込期間】7月1日（水）～8月31日（月）
※本学ウェブサイトからお申し込みください。
横浜国立大学公開講座のご案内
※機器実習受講人数：1機種4名まで
受講希望の機器に順位をつけて申し込み（合計16名まで）
【会場】横浜国立大学 機器分析評価センター、先端科学高等研究院棟
【問い合わせ先】横浜国立大学総務部広報・渉外課（TEL:045-339-3027）
【申込期間】7月1日（水）～8月31日（月）
※本学ウェブサイトからお申し込みください。
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※機器実習受講人数：1機種4名まで
受講希望の機器に順位をつけて申し込み（合計16名まで）
講師陣
| 名前 | 梅澤 修 |
|---|---|
| 肩書き | 横浜国立大学 大学院工学研究院 教授 |
| プロフィール | － |
| 名前 | 岡崎 慎司 |
|---|---|
| 肩書き | 横浜国立大学 大学院工学研究院 教授 |
| プロフィール | － |
| 名前 | 横山 隆 |
|---|---|
| 肩書き | 横浜国立大学 大学院工学研究院 講師 |
| プロフィール | － |
| 名前 | 伊藤 大輔 |
|---|---|
| 肩書き | 横浜国立大学 大学院工学研究院 特別研究教員 |
| プロフィール | － |
| 名前 | 吉原 美知子 |
|---|---|
| 肩書き | 横浜国立大学 機器分析評価センター 准教授 |
| プロフィール | － |
| 名前 | 近藤 正志 |
|---|---|
| 肩書き | 横浜国立大学 機器分析評価センター 技術専門職員 |
| プロフィール | － |
| 名前 | 根岸 洋一 |
|---|---|
| 肩書き | 横浜国立大学 機器分析評価センター 技術職員 |
| プロフィール | － |
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