大学公開講座のセカンドアカデミー

【講座内容】
X線は物質を構成する原子と相互作用し、その状態(原子の配列や電子的な状態)を知ることができます。大型放射光施設では、通常では得ることができない高エネルギーなX線を高輝度で発生させることができます。この高輝度なX線を使うと物質に微量に含まれる元素の検出や、機能を発揮している時の材料の状態を追跡することが可能になります。機能発現中の状態を知ることは、新しい材料を開発するうえで重要です。本講座では大型放射光施設でのX線発生メカニズムやX線を用いた分光法の基礎とこれを用いた材料の解析について説明・紹介します。

●大型放射光施設 ●X線吸収分光法の基礎
●X線吸収分光測定 ●局所構造解析
●時間分解計測 ●高エネルギー分解計測

【講座スケジュール】
第1回 08-26 13:30～15:00

※資料は配布します。

単位数：1単位

※定員の充足状況の変化で、締切前でも受付終了・開講中止等になる場合があります。

お申込の際は、リンク先の主催校のホームページをご確認下さい。

名前	山添 誠司
肩書き	東京都立大学 理学部化学科 教授
プロフィール	京都大学大学院工学研究科分子工学専攻修了.龍谷大学理工学部物質化学科助教，東京大学理学部化学科助教を経て，2017年10月から現職に着任.専門は触媒化学，クラスター科学，機能性材料化学，放射光分光.現在は，環境調和を目指した，二酸化炭素回収・変換技術開発，クラスター触媒を用いた分子変換技術開発，機能性無機固体材料の触媒応用，放射光を用いたオペランド計測技術の開発を進めている.