講座詳細情報
申し込み締切日：2013-08-21 / その他実用
【講座10】実践機器分析基礎講座（２）～電子線を用いる固体試料の観察及び分析～
- 開催日
- 2013年9月3日（火）
- 講座回数
- 1回
- 時間
- 10時～17時
- 講座区分
- 1回もの
- 入学金
- －
- 受講料
- 3,000円
- 定員
- 12
- その他
- 技術者向けの講座（一般の方も受講可）
- 補足
※この講座の申し込みは既に締め切りました。
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講座詳細
本講座は固体試料の観察及び元素分析の初心者や実務者を対象とするものです。
固体試料の観察でよく用いられる、走査型電子顕微鏡（SEM）、透過型電子顕微鏡（TEM）および電子線マイクロアナライザー（EPMA）を用い、原理・構造や試料調整方法等の基礎を紹介するとともに、これらの装置を用いて実習を行います。
固体試料の観察でよく用いられる、走査型電子顕微鏡（SEM）、透過型電子顕微鏡（TEM）および電子線マイクロアナライザー（EPMA）を用い、原理・構造や試料調整方法等の基礎を紹介するとともに、これらの装置を用いて実習を行います。
備考
機器実習受講人数：1機種4名まで
受講希望の機器に順位をつけて申し込み
（合計12名まで）
受講希望の機器に順位をつけて申し込み
（合計12名まで）
講師陣
| 名前 | 梅澤 修 |
|---|---|
| 肩書き | 横浜国立大学 大学院工学研究院 教授 |
| プロフィール | － |
| 名前 | 吉原 美知子 |
|---|---|
| 肩書き | 横浜国立大学 機器分析評価センター 准教授 |
| プロフィール | － |
| 名前 | 近藤 正志 |
|---|---|
| 肩書き | 横浜国立大学 機器分析評価センター 技術専門職員 |
| プロフィール | － |
| 名前 | 根岸 洋一 |
|---|---|
| 肩書き | 横浜国立大学 機器分析評価センター 特任技術職員 |
| プロフィール | － |
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